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簡要描述:德國NanoFocus μsprint全自動(dòng)晶元檢測(cè)系統(tǒng)是專門為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的bump檢測(cè)而設(shè)計(jì)。
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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德國NanoFocus μsprint全自動(dòng)晶元檢測(cè)系統(tǒng)?
產(chǎn)品介紹:
μsprint全自動(dòng)晶元檢測(cè)系統(tǒng)是專門為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的bump檢測(cè)而設(shè)計(jì)。zui大能夠自動(dòng)檢測(cè)八寸晶元。wafer inspection,bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級(jí)精度的量測(cè)。