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簡要描述:超高速視頻級原子力顯微鏡(Sample-Scanning High-Speed Atomic Force Microscope ,HS-AFM SS-NEX)是由日本 Kanazawa 大學(xué) Prof. Ando 教授團(tuán)隊研發(fā)的,也是世界上*臺可以達(dá)到視頻級成像的商業(yè)化原子力顯微鏡。
品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
產(chǎn)品簡介:
超高速視頻級原子力顯微鏡(Sample-Scanning High-Speed Atomic Force Microscope ,HS-AFM SS-NEX)是由日本 Kanazawa 大學(xué) Prof. Ando 教授團(tuán)隊研發(fā)的,也是世界上*臺可以達(dá)到視頻級成像的商業(yè)化原子力顯微鏡。HS-AFM突破了傳統(tǒng)原子力顯微鏡“掃描成像速慢”的限制,能夠?qū)崿F(xiàn)在液體環(huán)境下超快速動態(tài)成像,分辨率為納米水平。樣品無需特殊固定,不影響生物分子的活性,尤其適用于生物大分子互作動態(tài)觀測。推出至今,全球已有80多位用戶,發(fā)表 SCI 文章 200 余篇,包括Science, Nature, Cell 等雜志。
設(shè)備規(guī)格及參數(shù):
標(biāo)準(zhǔn)配置 | |
掃描速度 scan speed | 50 ms/frame (20 frames/sec) |
壓電掃描器 piezo range | X: 0.7µm, Y:0.7µm, Z: 0.4µm |
樣品大小 sample size | 1.5mm in diameter |
掃描環(huán)境 environment | In liquid/In air |
控制系統(tǒng) control system | PID control, Dynamic PID control |
significant Function | Scanner active dumping,Drift correction for cantilever excitation |
可選配置 | |
光照裝置 Light irradiation Unit | Light irradiation unit for the experiments with caged compounds. Variable wavelength: 350-560nm |
寬掃描臺 wide scanner | 1frames/s;XY:4µm×4µm, Z:0.7µm |
超寬掃描臺Amplified ultra wider scanner | 0.1frames/s;XY:30µm×30µm, Z:1.2µm |
微流控系統(tǒng) Circulation unit | The observation solutions can be exchanged while continuing AFM observation. |
技術(shù)特征:
√ 掃描速度快 | √ 探針小,適用于生物樣品 | √ 自動校正,適合長時間測樣 |
◆ 掃描速度最高可達(dá) 20 frame/s ◆ 有 4 種掃描臺可供選擇 | ◆ 懸臂探針共振頻率高,彈簧系 數(shù)小。避免了對生物樣品等的損傷
| ◆ 懸臂探針可自動漂移校準(zhǔn), 適用于長時間觀測。
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